浮地测试系统

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201320067557.8
IPC分类号：G01R31/28;G01R15/14
申请日期：
2013-02-05
申请人：
上海宏测半导体科技有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	浮地测试系统
申请号	CN201320067557.8	申请日期	2013-02-05
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;5;/;1;4查看分类表>
申请人	上海宏测半导体科技有限公司	申请人地址	江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨大道320号科创广场科创总部大厦B座24楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京宏泰半导体科技有限公司	当前权利人	南京宏泰半导体科技有限公司
发明人	毛国梁;曹云飞
代理机构	上海晨皓知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	成丽杰

摘要

本实用新型涉及集成电路测试领域，公开了一种浮地测试系统。本实用新型中浮地测试系统包含：浮地测量电路、电源隔离电路和信号隔离电路；被测系统的系统电源通过电源隔离电路与浮地测量电路连接；被测系统的系统信号通过信号隔离电路与浮地测量电路进行传递。通过隔离电路把浮地测量电路同被测系统其他电路隔离开，使得浮地测试系统不受大地电性能的影响，可使功率地和信号地之间的隔离电阻很大，阻止共地阻抗电路性耦合产生的电磁干扰，能满足较高电压和较大电流的测试要求。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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