毫米波检查设备的辐射计温度校准装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201010223295.0
IPC分类号：G01V13/00
申请日期：
2010-06-30
申请人：
清华大学;同方威视技术股份有限公司

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著录项信息

专利名称	毫米波检查设备的辐射计温度校准装置
申请号	CN201010223295.0	申请日期	2010-06-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-01-11	公开/公告号	CN102313912A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01V13/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01V 地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物（用于指示因事故被掩埋的人的位置，例如，被雪掩埋的人的位置的装置入A63B 29/02）〔4，6〕 G01V13/00 包括在G01V 1/00至G01V 11/00各组中的仪器或设备的制造、校准、清洁或修理	IPC分类号	G;0;1;V;1;3;/;0;0查看分类表>
申请人	清华大学;同方威视技术股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区清华大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学,同方威视技术股份有限公司	当前权利人	清华大学,同方威视技术股份有限公司
发明人	陈志强;李元景;赵自然;刘以农;吴万龙;张丽;林东;沈宗俊;罗希雷;郑志敏;桑斌;曹硕;金颖康
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	刘晓峰

摘要

本发明公开了一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，包括：常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。与现有技术相比，在本发明的上述各个实施例中，由于为辐射计设置了专门的高低温校准装置，因此能够对辐射计的初值和增益实时地校准，从而避免了环境温度变化和辐射计自身温度变化所带来的不利影响，从而提高了辐射计的检测精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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