一种采用两个RPN数的故障模式影响及危害性分析方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110457815.9
IPC分类号：G06F19/00
申请日期：
2011-12-31
申请人：
电子科技大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种采用两个RPN数的故障模式影响及危害性分析方法
申请号	CN201110457815.9	申请日期	2011-12-31
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-07-03	公开/公告号	CN103186708A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F19/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F19/00 专门适用于特定应用的数字计算或数据处理的设备或方法（专门适用于特定功能的入G06F17/00；专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或数据处理方法入G06Q；医疗信息学入G16H）〔6，2006.01，2011.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	刘宇;汪忠来;黄洪钟;宋巍;孙锐;凌丹;肖宁聪
代理机构	电子科技大学专利中心	代理人	周永宏

摘要

本发明公开了一种采用两个RPN数的故障模式影响及危害性分析方法，具体为：根据预防度和检测度分别打分，得到故障模式严重度和发生度的量化指标，即得到两个风险优先数RPN1和RPN2，其中，RPN1＝O×S×P，RPN2＝O×S×D，所述P为预防度，O为故障模式发生概率等级，S为严酷度等级，D为检测难度等级；根据两个风险优先数的高低比较，获得故障模式排序和选择方式。本发明的方法在计算风险优先数时不仅考虑故障模式的检测难易程度，而且考虑设计改进对故障模式的预防程度，从而获得的两个风险优先数，从预防和检测的角度对故障模式进行排序，避免了由于探测措施好而忽略了设计改进的情况，为产品的设计改进提供更为全面的依据。

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