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用于测量晶体光弹系数的加压装置、测量系统及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110792327.7
  • IPC分类号:G01N21/45;G01L1/24
  • 申请日期:
    2021-07-14
  • 申请人:
    南京理工大学
著录项信息
专利名称用于测量晶体光弹系数的加压装置、测量系统及方法
申请号CN202110792327.7申请日期2021-07-14
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2021-08-13公开/公告号CN113252610A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/45IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;4;5;;;G;0;1;L;1;/;2;4查看分类表>
申请人南京理工大学申请人地址
江苏省南京市孝陵卫200号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京理工大学当前权利人南京理工大学
发明人富容国;陈旭彬
代理机构南京理工大学专利中心代理人陈鹏
摘要
本发明公开了一种用于测量晶体光弹系数的加压装置、测量系统及方法,所述加压装置包括支撑柱、顶板及底座组成的框架;顶板下侧固定连接电动液压杆,同时通过两根圆柱固定连接约束筒,约束筒内设有球形压珠;底座上端固定安装有受压平板,受压平板上安装有用于夹持待测量晶体的夹具,夹具用于放置晶体位置的上方设有受压块,受压块的上方为施压机构,施压机构为倒置T形,包括施压杆和施压平板,施压平板和受压块平面接触;施压杆上端和电动液压杆下端均位于约束筒内,并分别与球形压珠点接触,构成球面副结构,加压时电动液压杆下端挤压球形压珠,对施压杆加压。本发明实现测量晶体光弹系数时的均匀加压,提高晶体光弹系数的测量精度。

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