测试电路及采用该测试电路的存储芯片

发明专利有效专利

申请号：
CN201910981722.2
IPC分类号：G11C29/40;G11C29/12
申请日期：
2019-10-16
申请人：
长鑫存储技术有限公司

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著录项信息

专利名称	测试电路及采用该测试电路的存储芯片
申请号	CN201910981722.2	申请日期	2019-10-16
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-16	公开/公告号	CN112669895A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/40 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/12 用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置〔BIST〕〔8〕 G11C29/38 响应验证装置〔8〕 G11C29/40 用压缩技术〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;4;0;;;G;1;1;C;2;9;/;1;2查看分类表>
申请人	长鑫存储技术有限公司	申请人地址	安徽省合肥市蜀山区经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	长鑫存储技术有限公司	当前权利人	长鑫存储技术有限公司
发明人	王佳;张良;李红文
代理机构	上海盈盛知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	孙佳胤;高翠花

摘要

本发明提供一种测试电路及存储芯片，所述测试电路用于存储器的压缩数据读取，所述测试电路包括M个存储块，所述M为大于或等于2的偶数，其中N个存储块组成一个存储组，所述N为大于或等于2且小于或等于M的偶数，所述M是所述N的整数倍，其特征在于，所述测试电路还包括：压缩数据读取单元，一个所述压缩数据读取单元对应一个所述存储组，所述压缩数据读取单元与对应的所述存储组中的所述N个存储块连接，所述压缩数据读取单元接收压缩数据读取命令和地址信息，并根据所述压缩数据读取命令和所述地址信息读取所述N个存储块中的数据。本发明的优点在于，能够既不额外增加存储芯片的尺寸又能大幅度减少测试时间。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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