一种探针测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201510670002.6
IPC分类号：G01R31/00;G01R1/067;G01R1/04
申请日期：
2015-10-16
申请人：
苏州赛腾精密电子股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种探针测试装置
申请号	CN201510670002.6	申请日期	2015-10-16
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2015-12-23	公开/公告号	CN105182142A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;6;7;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	苏州赛腾精密电子股份有限公司	申请人地址	江苏省苏州市吴中区经济开发区东吴南路4号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州赛腾精密电子股份有限公司	当前权利人	苏州赛腾精密电子股份有限公司
发明人	孙丰
代理机构	无锡睿文利通知识产权代理有限公司	代理人	胡思棉

摘要

一种探针测试装置，其包括与探针连接的测试线，其特征在于还包括针板和位于所述针板上方的载板，在所述针板上安装有探针模组；在所述载板上面开设有产品容置凹槽，所述探针模组穿过所述载板位于所述产品容置凹槽中。本发明的探针测试组件，通过针板和载板、测试线的有机组合，即可实现对小型化产品的进行定位测试。其结构简单紧凑，测试方便，适合各类小型化电子产品的测试工作。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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