内嵌式测试模组及其诊断方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010570305.8
IPC分类号：G11C29/12
申请日期：
2010-12-02
申请人：
厚翼科技股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	内嵌式测试模组及其诊断方法
申请号	CN201010570305.8	申请日期	2010-12-02
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-23	公开/公告号	CN102467974A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/12 用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置〔BIST〕〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;1;2查看分类表>
申请人	厚翼科技股份有限公司	申请人地址	中国台湾新竹市光复路二段101号育成中心301室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	厚翼科技股份有限公司	当前权利人	厚翼科技股份有限公司
发明人	邓力铭;邢育肇
代理机构	上海宏威知识产权代理有限公司	代理人	金利琴

摘要

本发明公开一种内嵌式测试模组及其诊断方法，将一或多个测试命令编码，用来减少测试记忆体时所需的储存空间，另外，本发明可取代自动测试设备的大部分功能，由本发明测试记忆体时，若发现错误会传输测试过程所得的错误资讯给外部的自动测试设备并可选择是否要将错误资讯记录在记忆体中，测试者可以由此资讯得知记忆体错误的详细资讯，减少测试人员后续除错与追踪的时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供