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三维测量装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201680081606.X
  • IPC分类号:G01B11/25;G01B11/24;H05K3/34
  • 申请日期:
    2016-08-31
  • 申请人:
    CKD株式会社
著录项信息
专利名称三维测量装置
申请号CN201680081606.X申请日期2016-08-31
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2018-10-23公开/公告号CN108700409A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/25IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;2;5;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;H;0;5;K;3;/;3;4查看分类表>
申请人CKD株式会社申请人地址
日本爱知县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人CKD株式会社当前权利人CKD株式会社
发明人大山刚;坂井田宪彦;二村伊久雄
代理机构北京东方亿思知识产权代理有限责任公司代理人刘军
摘要
提供一种当进行三维测量时能够提高测量精度等的三维测量装置。基板检查装置(10)包括移动印刷基板(1)的输送机(13)、向印刷基板(1)照射预定光的照明装置(14)、用于拍摄被照射了该光的印刷基板(1)的相机(15)。相机(15)包括设置为能够在上下方向上变位的拍摄元件和使印刷基板(1)的像成像在其上的双侧远心光学系统。并且,在进行以三维测量为目的的与印刷基板(1)的预定区域有关的拍摄的前一阶段,进行该预定区域的高度测量等的同时,基于其结果进行拍摄元件(17)的高度调整等。

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