在半导体器件中形成细微图案的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200710306333.7
IPC分类号：H01L21/00;H01L21/02;H01L21/311
申请日期：
2007-12-28
申请人：
海力士半导体有限公司

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著录项信息

专利名称	在半导体器件中形成细微图案的方法
申请号	CN200710306333.7	申请日期	2007-12-28
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-09-24	公开/公告号	CN101271830
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01L21/00 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G 9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中半导体器件的使用见该应用的小类）〔2〕 H01L21/00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备〔2，8〕	IPC分类号	H;0;1;L;2;1;/;0;0;;;H;0;1;L;2;1;/;0;2;;;H;0;1;L;2;1;/;3;1;1查看分类表>
申请人	海力士半导体有限公司	申请人地址	韩国京畿道利川市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	海力士半导体有限公司	当前权利人	海力士半导体有限公司
发明人	赵诚允;李昌九
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	刘继富;顾晋伟

摘要

一种在半导体器件中形成细微图案的方法，包括：在蚀刻目标层上形成第一硬掩模层；在该第一硬掩模层上形成具有负斜面的第一蚀刻掩模图案，从而形成所得结构；在该所得结构上形成用于第二蚀刻掩模的第一材料层；进行平坦化工艺直到暴露该第一蚀刻掩模图案，以形成填充在间隔物之间的空间的第二蚀刻掩模图案；除去该间隔物；和使用该第一蚀刻掩模图案和该第二蚀刻掩模图案，蚀刻该第一硬掩模层和该蚀刻目标层。

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