基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810366800.3
IPC分类号：G01N23/223
申请日期：
2018-04-23
申请人：
浙江工业大学

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著录项信息

专利名称	基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析方法
申请号	CN201810366800.3	申请日期	2018-04-23
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-08-28	公开/公告号	CN108459037A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/223 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕 G01N23/223 通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分类表>
申请人	浙江工业大学	申请人地址	浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江工业大学	当前权利人	浙江工业大学
发明人	乐孜纯;董文
代理机构	杭州斯可睿专利事务所有限公司	代理人	王利强

摘要

一种基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析方法，包括如下步骤：1)因X射线辐射不可见，先利用可见光激光器进行系统光轴校准，校准完成后将发出不可见的X射线辐射的X射线光管移入系统光轴；2)利用X射线阵列组合折射透镜集成组件形成荧光探测微束；3)多个不同的X射线子光束被对应的X射线阵列组合折射透镜聚焦，多个焦斑的叠加最终形成X射线探测微束，并照射到样品台上的被检样品；4)X射线探测器贴近样品台上的被测样品放置，收集X射线探测微束照射被测样品所产生的二次荧光，并送入信息采集分析模块进行荧光分析。本发明提供一种同时具备高微区分辨率和高灵敏度，并可进行现场分析的小型化微束X射线荧光分析方法。

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