一种多径传播环境中均匀线阵相位响应参数的测定方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410338672.3
IPC分类号：G01S5/02
申请日期：
2014-07-16
申请人：
电子科技大学;同方电子科技有限公司

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专利名称	一种多径传播环境中均匀线阵相位响应参数的测定方法
申请号	CN201410338672.3	申请日期	2014-07-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-11-12	公开/公告号	CN104142445A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S5/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S5/00 通过确定两个或更多个方向或位置线的配合来定位；通过确定两个或更多个距离的配合进行定位〔2〕 G01S5/02 利用无线电波（G01S 19/00优先）〔1，2010.01〕	IPC分类号	G;0;1;S;5;/;0;2查看分类表>
申请人	电子科技大学;同方电子科技有限公司	申请人地址	四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学,同方电子科技有限公司	当前权利人	电子科技大学,同方电子科技有限公司
发明人	万群;肖洪坤;徐保根;万义和;汤四龙;丁学科;龚辉;殷吉昊;邹麟;饶中初
代理机构	电子科技大学专利中心	代理人	詹福五

摘要

该发明属于电子信息技术领域中天线阵列相位响应参数的测定方法，包括初始化处理，建立第一个方向及余各设定方向的多径信号方向差矩阵，确定各设定方向校正信号源的直达波信号与非直达波信号之间的方向差，确定均匀线阵相位响应参数。该发明由于采用将校正信号源分别置于不同的已知方向上并依次发射信号，均匀线阵收到该信号源发射的各次信号后，对各次多径信号分别进行处理，建立各方向差矩阵并确定各校正信号源的多径信号之间的方向差，进而确定均匀线阵相位响应参数向量及归一化平均向量的共轭向量。从而具有在多径且非直达波信号方向未知传播环境中，准确测定均匀线阵相位响应参数且所测参数与实际参数之间的误差小、相似度高等特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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