一种光耦继电器性能测试装置及测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110339453.7
IPC分类号：G01R31/327;G01R1/04
申请日期：
2021-03-30
申请人：
深圳群芯微电子有限责任公司

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著录项信息

专利名称	一种光耦继电器性能测试装置及测试方法
申请号	CN202110339453.7	申请日期	2021-03-30
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-07-06	公开/公告号	CN113075542A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/327 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/327 电路断续器、开关或电路断路器的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;2;7;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	深圳群芯微电子有限责任公司	申请人地址	广东省深圳市福田区华强北街道福强社区深南中路2070号中电广场大厦4层D4F07室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳群芯微电子有限责任公司	当前权利人	深圳群芯微电子有限责任公司
发明人	顾汉玉;季伟;徐刚;陈泓翰
代理机构	深圳市道勤知酷知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	何兵;吕诗

摘要

本发明属于测试设备领域，具体的说是一种光耦继电器性能测试装置，包括测试柜体，测试柜体内壁一侧固定连接有测试连接装置，测试连接装置通过导线电性连接有控制操作台，测试连接装置的连接口电性连接有光耦继电器，测试柜体内部连通有冷却机构；测试连接装置对光耦继电器的端子进行清理与保护，当光耦继电器运行发热时，通过冷却机构为光耦继电器进行降温处理；一种光耦继电器性能测试方法，通过该测试连接装置对光耦继电器进行测试，相较与传统的测试连接装置，测试更为准确，减少了光耦继电器端子表面的灰尘对测试产生影响，同时避免光耦继电器长时间工作发热影响到寿命测试的结果，使设备对光耦继电器测试的结果更加准确。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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