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一种阵列基板及其制备方法、检测方法和显示装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710506253.X
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2017-06-28
  • 申请人:
    京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司
著录项信息
专利名称一种阵列基板及其制备方法、检测方法和显示装置
申请号CN201710506253.X申请日期2017-06-28
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2017-09-01公开/公告号CN107123655A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司申请人地址
北京市朝阳区酒仙桥路10号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人京东方科技集团股份有限公司,合肥鑫晟光电科技有限公司当前权利人京东方科技集团股份有限公司,合肥鑫晟光电科技有限公司
发明人操彬彬
代理机构北京天昊联合知识产权代理有限公司代理人罗瑞芝;陈源
摘要
本发明提供一种阵列基板及其制备方法和显示装置。该阵列基板包括沿远离基底的方向依次叠覆在基底上的第一导电层、第一绝缘层和第二导电层,第一绝缘层中开设有第一过孔,还包括检测结构,检测结构形成于第一导电层、第一绝缘层和第二导电层中,用于检测第一过孔中是否有第一绝缘层材料的残留。该阵列基板能使开设在第一绝缘层中的第一过孔中的绝缘材料的残留通过形成于第一导电层、第一绝缘层和第二导电层中的检测结构及时检测出来,从而使第一过孔中绝缘材料的残留所导致的第一导电层和第二导电层的连接不良能够尽早地被检测出来,从而避免了阵列基板制备完成后检测所导致的生产成本及产能的浪费。

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