一种磁芯高温测试仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320676251.2
IPC分类号：G01R33/12
申请日期：
2013-10-30
申请人：
泰州茂翔电子器材有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种磁芯高温测试仪
申请号	CN201320676251.2	申请日期	2013-10-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/12 测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性（涉及磁共振的入G01R 33/20）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;1;2查看分类表>
申请人	泰州茂翔电子器材有限公司	申请人地址	江苏省泰州市兴化市周庄镇双蝶工业区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	泰州茂翔电子器材有限公司	当前权利人	泰州茂翔电子器材有限公司
发明人	颜茂山
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型涉及一种磁芯高温测试仪，包括底座、高温箱、控制箱、控制器，所述高温箱固定在底座上，所述高温箱由箱体、箱门组成，所述箱体内部放置有控制箱，所述箱门上开设有通孔，所述箱门的外侧在通孔下方设有固定架，所述固定架的外端连接有挡块，所述固定架上放置有控制器，所述控制器上伸出的电缆穿过通孔与箱体内的控制箱相连接。本实用新型中，将磁芯放入箱体内部即可对磁芯进行性能检测，当需要更改参数时，直接更改控制器就可以完成调参数再次测试，即能够在不用多次开闭箱门的情况下方便快捷得对磁芯的功耗参数等性能进行测试，提高了工作效率、降低了工人的操作强度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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