一种SOC芯片测量设备

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201520371282.6
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2015-06-02
申请人：
广东利扬芯片测试股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种SOC芯片测量设备
申请号	CN201520371282.6	申请日期	2015-06-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	广东利扬芯片测试股份有限公司	申请人地址	广东省东莞市万江区莫屋社区莫屋新村工业区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广东利扬芯片测试股份有限公司	当前权利人	广东利扬芯片测试股份有限公司
发明人	卢旭坤
代理机构	东莞市华南专利商标事务所有限公司	代理人	刘克宽

摘要

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种SOC芯片测量设备，该设备通过增加电压测试板来对soc芯片的电压参考源进行精准检测并将测试数据反馈给集成电路测试机，以便于集成电路测试机对芯片进行修调，另外，电压测试板由测试电路实现检测，并且通过参考电压电路为测试电路提供基准电压，确保测试电路的测试稳定精准。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供