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一种测量校准系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510581943.2
IPC分类号：G01D18/00
申请日期：
2015-09-11
申请人：
武汉泰利美信医疗科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种测量校准系统及方法
申请号	CN201510581943.2	申请日期	2015-09-11
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-12-23	公开/公告号	CN105180995A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D18/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D18/00 测试或校准大组G01D 1/00至G01D 15/00中列入的设备或装置	IPC分类号	G;0;1;D;1;8;/;0;0查看分类表>
申请人	武汉泰利美信医疗科技有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号武汉国家生物产业基地项目B、C、D区研发楼B1栋408室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉泰利美信医疗科技有限公司	当前权利人	武汉泰利美信医疗科技有限公司
发明人	陈文强;蔡超
代理机构	成都七星天知识产权代理有限公司	代理人	袁春晓

摘要

本发明提供了一个测量校准系统及方法，用于测量和校准与对象或环境有关的参数。综合测量系统包括一个存储校准公式的存储器、一个检索来自传感器信息的通信模块、一个检索信息并随后生成校准信息的运算中心。

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