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基于复合跟踪微分器实现自抗扰改进控制的方法、结构、装置及存储介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010973021.7
  • IPC分类号:G05B11/42
  • 申请日期:
    2020-09-16
  • 申请人:
    上海维宏电子科技股份有限公司;上海维宏智能技术有限公司;上海维宏自动化技术有限公司
著录项信息
专利名称基于复合跟踪微分器实现自抗扰改进控制的方法、结构、装置及存储介质
申请号CN202010973021.7申请日期2020-09-16
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-12-08公开/公告号CN112051730A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G05B11/42IPC分类号G;0;5;B;1;1;/;4;2查看分类表>
申请人上海维宏电子科技股份有限公司;上海维宏智能技术有限公司;上海维宏自动化技术有限公司申请人地址
上海市闵行区颛兴东路1277弄29号四楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海维宏电子科技股份有限公司,上海维宏智能技术有限公司,上海维宏自动化技术有限公司当前权利人上海维宏电子科技股份有限公司,上海维宏智能技术有限公司,上海维宏自动化技术有限公司
发明人郑之开;吴昊;陈豫;朱成坤
代理机构上海智信专利代理有限公司代理人王洁;郑暄
摘要
本发明涉及一种激光切割随动控制系统中基于复合跟踪微分器实现自抗扰改进控制的方法,包括由第一跟踪微分器和第二跟踪微分器组成复合跟踪微分器,得到复合跟踪微分器的微分表达式;对复合跟踪微分器在零初始条件下进行拉斯变换,得到参考信号和跟踪输出传递函数;通过前馈补偿的方式引入零点,并通过修改系数补偿系数α对零点进行配置。本发明还涉及一种实现自抗扰改进的复合跟踪微分器结构。采用了本发明的激光切割随动控制系统中基于复合跟踪微分器实现自抗扰改进控制的方法、复合跟踪微分器结构、装置及计算机可读存储介质,相比较于常用的跟踪微分器,复合跟踪微分器能够更好地平衡跟踪相位滞后以及微分信号提出中噪声放大的问题。

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