具有单一贯穿输送梭车的半导体元件测试机台

发明专利无效专利

申请号：
CN201010266771.7
IPC分类号：G01R31/26;G01R1/04
申请日期：
2010-08-30
申请人：
致茂电子（苏州）有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	具有单一贯穿输送梭车的半导体元件测试机台
申请号	CN201010266771.7	申请日期	2010-08-30
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-03-21	公开/公告号	CN102385027A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	致茂电子（苏州）有限公司	申请人地址	江苏省苏州市高新区竹园路9-1号狮山工业园六号厂房变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	致茂电子（苏州）有限公司	当前权利人	致茂电子（苏州）有限公司
发明人	陈建名
代理机构	北京明和龙知识产权代理有限公司	代理人	郁玉成

摘要

一种具有单一贯穿输送梭车的半导体元件测试机台，是由入料臂将入料匣内的待测半导体元件移至贯穿输送梭车的入料承载座，其出料承载座则在交换位置接收由测试臂组件来的已测完的元件；梭车随后移至使入料承载座对应于交换位置，供测试臂组件将待测元件移至测试座进行测试，且出料承载座则对应移至出料位置供出料臂取出完测品；贯穿输送梭车再度回复原位，让入料承载座回复入料位置承载下批待测元件，出料承载座则同时至交换位置接收完测品。梭车如此往复移动，不仅简化机台输送结构而降低制造成本，也可提升输送效率增加产出，提升机台竞争力。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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