高准确度正弦信号测量方法

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专利名称	高准确度正弦信号测量方法
申请号	CN200910089315.7	申请日期	2009-07-15
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-12-16	公开/公告号	CN101603985
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R23/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R23/00 测量频率的装置；频谱分析装置 G01R23/02 频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置	IPC分类号	G;0;1;R;2;3;/;0;2;;;G;0;1;R;2;3;/;1;6;;;G;0;1;R;1;9;/;2;5;2;;;G;0;1;R;2;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	吴静;金海彬;郝婷婷;郑青青
代理机构	北京永创新实专利事务所	代理人	周长琪

摘要

本发明为高准确度正弦信号测量方法，通过数据采集系统采样、离散傅里叶变换、搜寻谱峰、测量频率、测量幅值和相位步骤来实现。为了实现利用傅里叶变换算法对正弦信号的参数进行高准确度测量，本发明给出了一种能够同时修正长、短范围泄漏效应的插值方法。本发明中的方法可将正弦信号的测量准确度提高到10-8以上。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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