全息底纹镭射包装材料印刷品质量检测系统和检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201410091618.3
IPC分类号：G01N21/84
申请日期：
2014-03-13
申请人：
武汉虹之彩包装印刷有限公司

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著录项信息

专利名称	全息底纹镭射包装材料印刷品质量检测系统和检测方法
申请号	CN201410091618.3	申请日期	2014-03-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-05-28	公开/公告号	CN103822926A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/84 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;4查看分类表>
申请人	武汉虹之彩包装印刷有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东西湖区金山大道1355号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉虹之彩包装印刷有限公司	当前权利人	武汉虹之彩包装印刷有限公司
发明人	王建;陈锦新;贾金平;李晶;陈龙
代理机构	武汉楚天专利事务所	代理人	雷速

摘要

一种全息底纹镭射包装材料印刷品质量检测系统和检测方法，用于对不固定位置的镭射底纹印刷品的表观质量检测，在承托全息镭射底纹印张的一个转运辊筒的外侧不对称设置有LED光源和CCD扫描头，避镭射光驱动机构至少可在经过检测点且与转运辊筒轴线垂直的平面内直线移动和绕中心轴自转动，用于调整CCD扫描头使CCD扫描头能够通过LED光源的反射光采集到印品清晰图案且避开镭射底纹的反射光。本发明针对在印刷品中带不固定位置出现的镭射底纹的成品提供了一种简便有效的检测方案，在印刷品的制作生产线上对原质量检测系统经过低成本的改造即可实现对印刷质量的检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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