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多谱段日盲窄带紫外成像仪及其检测不同放电状态的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011162020.0
  • IPC分类号:G01R31/12;G01J1/42;G01J1/02
  • 申请日期:
    2020-10-27
  • 申请人:
    华北电力大学
著录项信息
专利名称多谱段日盲窄带紫外成像仪及其检测不同放电状态的方法
申请号CN202011162020.0申请日期2020-10-27
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-01-29公开/公告号CN112285504A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/12IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;1;2;;;G;0;1;J;1;/;4;2;;;G;0;1;J;1;/;0;2查看分类表>
申请人华北电力大学申请人地址
北京市昌平区朱辛庄北农路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华北电力大学当前权利人华北电力大学
发明人王胜辉;律方成;牛雷雷
代理机构北京君有知识产权代理事务所(普通合伙)代理人焦丽雅
摘要
多谱段日盲窄带紫外成像仪及其检测不同放电状态的方法,所述多谱段日盲窄带紫外成像仪,当光线通过镜头进入分光镜后,分别进入两个相互独立的可见光通道和紫外通道;所述可见光通道:光线经过分光镜的折射和反射后进入可见光相机,进行可见光成像并将可见光成像传输给图像控制处理模块;所述紫外通道:透过分光镜输出的光线经过日盲紫外滤光片后并经过多谱段滤光片之后进入紫外像增强器中,并将紫外像增强器处理过的光电子转换图像传输给图像控制处理模块。

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