通过直接测量干涉图案进行X射线成像的X射线拍摄系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201410113535.X
IPC分类号：A61B6/00
申请日期：
2014-03-25
申请人：
西门子公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	通过直接测量干涉图案进行X射线成像的X射线拍摄系统
申请号	CN201410113535.X	申请日期	2014-03-25
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2014-10-01	公开/公告号	CN104068875A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B6/00 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B6/00 用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的（应用在核医疗学方面的测量辐射强度的仪器，如在体内计数的入G01T1/161；用于X光摄影的设备入G03B42/02）	IPC分类号	A;6;1;B;6;/;0;0查看分类表>
申请人	西门子公司	申请人地址	德国慕尼黑变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西门子公司	当前权利人	西门子公司
发明人	P.伯恩哈特;M.斯帕恩
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	谢强

摘要

本发明涉及一种通过直接测量干涉图案（18）对检查对象（6）进行X射线成像，特别是进行差分的、有实时能力的相位对比成像的X射线拍摄系统，具有用于产生准相干X射线辐射的至少一个X射线辐射器（3）、具有探测器层（21）和按照矩阵布置的探测器像素（22）的X射线图像探测器（4）、布置在检查对象（6）和X射线图像探测器（4）之间并且产生干涉图案（18）的衍射或相位光栅（17）,第n个塔耳波特阶中的干涉图案（18）直接通过具有非常高的可达到的位置分辨率的X射线探测器（4）来检测，所述位置分辨率按照尼奎斯特理论至少为在第n个塔耳波特阶中形成的干涉图案（18）的一半波长。

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