基于光强原理测量应变的数码云纹方法、系统、设备及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202110888085.1
IPC分类号：G01B11/16
申请日期：
2021-08-03
申请人：
西安交通大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于光强原理测量应变的数码云纹方法、系统、设备及存储介质
申请号	CN202110888085.1	申请日期	2021-08-03
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-30	公开/公告号	CN113720268A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	西安交通大学	申请人地址	陕西省西安市咸宁西路28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安交通大学	当前权利人	西安交通大学
发明人	方钦志;闫兴伟;晋利
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	张海平

摘要

本发明公开了一种基于光强原理测量应变的数码云纹方法、系统、设备及存储介质，包括：将试件栅粘贴于试件的表面，采集变形前的试件栅照片作为基准栅，在试件变形过程中，采集变形后的试件栅图片作为新的试件栅，将基准栅与新的试件栅叠加，得叠加图片；将试件栅与基准栅上对应点的光强相乘，再将相乘的结果赋予给叠加图片的对应点；分析叠加图片中相邻节距的平均光强差，建立局部应变与相邻节距平均光强差的函数关系，通过全场分析，得试件表面的应变场，完成基于光强原理测量应变的数码云纹，该方法、系统、设备及存储介质的计算精度较高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供