可分离介质表层与深层信息的光学检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN02129271.X
IPC分类号：G01N21/21;G01N21/27;A61B5/00
申请日期：
2002-09-29
申请人：
天津市先石光学技术有限公司

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著录项信息

专利名称	可分离介质表层与深层信息的光学检测方法
申请号	CN02129271.X	申请日期	2002-09-29
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2004-03-31	公开/公告号	CN1485605
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/21 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/21 影响偏振的性质（G01N 21/19优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;2;1;;;G;0;1;N;2;1;/;2;7;;;A;6;1;B;5;/;0;0查看分类表>
申请人	天津市先石光学技术有限公司	申请人地址	变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津先阳科技发展有限公司	当前权利人	天津先阳科技发展有限公司
发明人	徐可欣;邱庆军;苏翼雄
代理机构	天津市北洋有限责任专利代理事务所	代理人	王丽

摘要

本发明涉及一种光学检测方法，特别涉及一种可分离介质表层与深层信息的光学检测方法。为实现非接触测量奠定了基础。它是由光源经过一个入射单元照射在被测样品组织上，经过接收单元处理后，由检测器完成检测；测量系统可以实现介质表层与深层信息的分离；而且光学测头和被测样品组织是非接触的。在本发明中，入射单元和接收单元可以根据偏振法、挡光法、空间成像法、布儒斯特角法等不同的方法进行设置。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN1341004A	2002-03-20	2000-01-25	组织的偏振光散射光谱失效专利	麻省理工学院
2	CN1307711A	2001-08-08	1999-04-21	用于手纹和指纹的无接触识别的系统失效专利	无接触传感器技术有限公司

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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