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自支撑氮化镓层及其制作方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010059906.6
  • IPC分类号:C23C14/02;C23C14/04;C23C14/06;C23C16/02;C23C16/04;C23C16/34;C30B35/00;C30B29/38;H01L21/02
  • 申请日期:
    2020-01-19
  • 申请人:
    镓特半导体科技(上海)有限公司
著录项信息
专利名称自支撑氮化镓层及其制作方法
申请号CN202010059906.6申请日期2020-01-19
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-06-02公开/公告号CN111218643A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C14/02IPC分类号C;2;3;C;1;4;/;0;2;;;C;2;3;C;1;4;/;0;4;;;C;2;3;C;1;4;/;0;6;;;C;2;3;C;1;6;/;0;2;;;C;2;3;C;1;6;/;0;4;;;C;2;3;C;1;6;/;3;4;;;C;3;0;B;3;5;/;0;0;;;C;3;0;B;2;9;/;3;8;;;H;0;1;L;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人镓特半导体科技(上海)有限公司申请人地址
上海市浦东新区泥城镇新城路2号23幢N1128室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人镓特半导体科技(上海)有限公司当前权利人镓特半导体科技(上海)有限公司
发明人刘仁锁;王颖慧;特洛伊·乔纳森·贝克;罗晓菊
代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司代理人史治法
摘要
本发明涉及一种自支撑氮化镓层的制作方法,包括:提供支撑衬底;在支撑衬底的表面形成氮化物缓冲层;在氮化物缓冲层的表面形成图形化掩膜层,图形化掩膜层内形成有若干个开口,开口暴露出氮化物缓冲层;于开口内及图形化掩膜层的表面形成氮化镓层,包括如下步骤:至少于开口内形成第一氮化镓层,第一氮化镓层为N型掺杂层或者半绝缘掺杂层;于第一氮化镓层上形成第二氮化镓层,第二氮化镓层为半绝缘掺杂层;将所得结构进行降温处理,以得到自支撑氮化镓层。本发明中掺杂的第一氮化镓层改变晶格取向倾向于横向生长,利于相邻开口内第一氮化镓层在图形化掩膜层弥合成片状,使得后续氮化镓层更容易剥离,提高了自支撑氮化镓层的结晶质量。

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