一种高精度荧光寿命测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201310589730.5
IPC分类号：G01N21/64
申请日期：
2013-11-20
申请人：
中国科学技术大学

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著录项信息

专利名称	一种高精度荧光寿命测量装置
申请号	CN201310589730.5	申请日期	2013-11-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-02-19	公开/公告号	CN103592277A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人	中国科学技术大学	申请人地址	安徽省合肥市包河区金寨路96号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学技术大学	当前权利人	中国科学技术大学
发明人	陈耕;李传锋;唐建顺
代理机构	北京凯特来知识产权代理有限公司	代理人	郑立明;赵镇勇

摘要

本发明公开了一种高精度荧光寿命测量装置，该装置包括：飞秒级脉冲激光器、第一与第二光学分束器、第一与第二全反镜、显微物镜与光谱仪；其中，所述飞秒级脉冲激光器发射的激光经由第一光学分束器后分为两路光束，并分别通过第一与第二全反镜反射后，经由所述第一光学分束器合并为一路光束；所述一路光束经由第二光学分束器分为两路光束，其中反射光通过显微物镜作用于材料上，产生的荧光被显微物镜收集后由光谱仪测量信号的强度，进而获得荧光寿命。通过本发明公开的装置，提高了测量的精度及测量结果的可靠性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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