利用光纤光栅位移传感器测量基岩轴向变形的装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510055882.6
IPC分类号：G01B11/16
申请日期：
2015-02-03
申请人：
中国水利水电科学研究院;北京中水科工程总公司

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专利名称	利用光纤光栅位移传感器测量基岩轴向变形的装置及方法
申请号	CN201510055882.6	申请日期	2015-02-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-05-20	公开/公告号	CN104634269A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	中国水利水电科学研究院;北京中水科工程总公司	申请人地址	北京市海淀区车公庄西路20号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国水利水电科学研究院,北京中水科工程总公司	当前权利人	中国水利水电科学研究院,北京中水科工程总公司
发明人	汪小刚;王万顺;李秀文;葛怀光;孙建会;姜龙;田冬成;许源;贺虎;熊成林;朱赵辉
代理机构	北京细软智谷知识产权代理有限责任公司	代理人	王淑玲

摘要

本发明公开了一种利用光纤光栅位移传感器利用光纤光栅位移传感器测量基岩轴向变形的装置及方法，该装置包括光纤光栅位移计、光缆和信号转换机构，所述光纤光栅位移计与所述信号转换机构之间通过光缆连接；所述光纤光栅位移计顺次连接，用以检测基岩的轴向变形；通过光缆与所述光纤光栅位移计连接，用以接收光缆中的信号并转变为可读的信息。本发明的有益效果为：基于光纤光栅位移计解决了测量基岩轴向变形的问题，并且采用带温度补偿的光纤光纤位移计可避免温度影响；通过将不同光纤光栅位移计顺次连接组装成串，可连续测得地下洞室围岩和基岩的轴向变形；根据安装孔位设计不同，还可测得不同方向的基岩轴向变形。

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