检测装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200820060657.7
IPC分类号：G01B11/00;G01R31/02
申请日期：
2008-07-14
申请人：
英华达（上海）科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	检测装置
申请号	CN200820060657.7	申请日期	2008-07-14
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;0;2查看分类表>
申请人	英华达（上海）科技有限公司	申请人地址	上海市闵行区漕河泾出口加工区浦星路789号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	英华达（上海）科技有限公司	当前权利人	英华达（上海）科技有限公司
发明人	谈帅
代理机构	上海浦一知识产权代理有限公司	代理人	丁纪铁

摘要

本实用新型公开了一种检测装置，适用于检测一电路板，其包含一预设电路板、至少一待测电路板及一自动光学检测(Automated Optical Inspection，AOI)模组，其中自动光学检测(Automated Optical Inspection，AOI)模组，系用以侦测预设电路板以产生一预设资料，并依据预设资料以检测待测电路板，以输出一检测结果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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