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用于校准光反射测量的系统和方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200680022871.7
  • IPC分类号:A61B5/00;G01N21/49
  • 申请日期:
    2006-04-25
  • 申请人:
    马萨诸塞大学
著录项信息
专利名称用于校准光反射测量的系统和方法
申请号CN200680022871.7申请日期2006-04-25
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2009-08-19公开/公告号CN101511261
优先权暂无优先权号暂无
主分类号A61B5/00IPC分类号A;6;1;B;5;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;4;9查看分类表>
申请人马萨诸塞大学申请人地址
美国马萨诸塞州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人马萨诸塞大学当前权利人马萨诸塞大学
发明人巴布斯·R·索莱尔;杨晔;迈克尔·A·希尔;奥卢索拉·O·索耶米
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人王景刚
摘要
本发明公开了一种用于测量样品的目标区域中的被分析物的测量系统和方法,所述样品还包括覆盖在目标区域上方的特征。所述系统包括:(a)光源;(b)检测系统;(c)一组至少第一、第二和第三光端口,所述组从光源传输光到样品并从样品接收光并导向检测系统,产生第一组数据和第二组数据,其中所述第一组数据包括相应于样品内部目标和覆盖在内部目标上方的特征两者的信息,所述第二组数据包括相应于覆盖在内部目标上方的特征的信息;(d)处理器,构造为可以使用第一和第二组数据从第一组数据移除覆盖在上方的特征的信息特征,以产生表示内部目标的已校准信息。

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