一种全闭环伺服系统的数控机床反向间隙检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010743884.5
IPC分类号：B23Q17/00
申请日期：
2020-07-29
申请人：
成都飞机工业（集团）有限责任公司

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著录项信息

专利名称	一种全闭环伺服系统的数控机床反向间隙检测方法
申请号	CN202010743884.5	申请日期	2020-07-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-12-01	公开/公告号	CN112008490A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B23Q17/00 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B2 成型 B23 机床；其他类目中不包括的金属加工 B23Q 机床的零件、部件或附件，如仿形装置或控制装置（在车床或镗床上使用的各类刀具入B23B 27/00）；以特殊零件或部件的结构为特征的通用机床；不针对某一特殊金属加工用途的金属加工机床的组合或联合 B23Q17/00 机床上的指示或测量装置（用于刀具或工件的进给运动，切削速度或位置的自控制或调节入B23Q 15/00）〔3，4〕	IPC分类号	B;2;3;Q;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	成都飞机工业（集团）有限责任公司	申请人地址	四川省成都市青羊区黄田坝变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	成都飞机工业（集团）有限责任公司	当前权利人	成都飞机工业（集团）有限责任公司
发明人	李勇;陶文坚;李杰;潘世禄;贾永锋;胡金龙;徐强;王一鹏
代理机构	成都天嘉专利事务所（普通合伙）	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种全闭环伺服系统的数控机床反向间隙检测方法，属于机床精度检测技术领域，其特征在于，包括以下步骤a、选取检测点位；b、采集并保存数据；c、设置伺服跟踪数据采集参数；d、得到坐标轴的运行位置‑时间图；e、通过步骤d的位置数据，得到光栅尺从B点运动到C点的位移量H1,从C点到D点的位移量H2；编码器从B点运动到C点的位移量h1,从C点到D点的位移量h2；f、通过计算编码器与光栅尺对应位置的位移量差值的绝对值表征反向间隙。本发明能够在全闭环位置反馈系统中直接进行反向间隙的检测，准备时间短，检测效率和检测精度高，操作简单，对反向间隙的精度状态评估具有重要的工程应用价值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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