加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

辐射探测器和一种用在平面束射线照相中的设备

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN00807425.9
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2000-03-30
  • 申请人:
    埃克斯康特尔股份公司
著录项信息
专利名称辐射探测器和一种用在平面束射线照相中的设备
申请号CN00807425.9申请日期2000-03-30
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2002-05-22公开/公告号CN1350645
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人埃克斯康特尔股份公司申请人地址
瑞典丹德吕德 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人埃克斯康特尔股份公司当前权利人埃克斯康特尔股份公司
发明人汤姆·弗兰克;弗拉蒂米尔·帕斯科夫;克里斯特·乌尔伯格
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所代理人冯谱
摘要
一种用于电离辐射的探测的探测器(64);和一种用在平面束射线照相中、包括这样一个探测器的设备。该探测器包括:一个腔室,填充有一种电离介质;第一和第二电极装置(2、1、18、19),提供在所述腔室中,在它们之间有一个空间,所述空间包括一个转换体积(13);用于电子雪崩放大的装置(17),布置在所述腔室中;及至少一个读出元件装置(15),用于探测电子雪崩。提供一个辐射进口,从而辐射进入在第一与第二电极装置之间的转换体积。为了实现彼此简单叠置的探测器,第一和第二电极装置呈现一个第一和一个第二主平面,所述平面是非平行的。由此带有叠置探测器的设备能简单和成本有效地制造。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供