一种光电电光器件的关键参数提取装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201811598491.9
IPC分类号：H04B10/079;H04B10/50;H04Q11/00
申请日期：
2018-12-26
申请人：
中国电子科技集团公司第四十四研究所

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专利名称	一种光电电光器件的关键参数提取装置
申请号	CN201811598491.9	申请日期	2018-12-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-04-26	公开/公告号	CN109687902A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04B10/079 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04B 传输〔4〕 H04B10/06 （转入H04B10/60） H04B10/07 用于监视和测试传输系统的装置；用于传输系统故障测量的系统〔2013.01〕 H04B10/075 使用服务中的信号（H04B10/071优先）〔2013.01〕 H04B10/079 使用数据信号的测量值〔2013.01〕	IPC分类号	H;0;4;B;1;0;/;0;7;9;;;H;0;4;B;1;0;/;5;0;;;H;0;4;Q;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国电子科技集团公司第四十四研究所	申请人地址	重庆市南岸区南坪花园路14号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电子科技集团公司第四十四研究所	当前权利人	中国电子科技集团公司第四十四研究所
发明人	张羽;孙力军;梁旭;徐静;朱煜西;廖理
代理机构	重庆辉腾律师事务所	代理人	卢胜斌

摘要

本发明属于微波技术和光电子技术领域，尤其涉及用于光网络参数综合测试仪的一种光电电光器件的关键参数提取装置；所述提取装置用于通过物理接口连接光网络参数综合测试仪，从而提取出待测光电/电光器件的关键参数，并在所述光网络参数综合测试仪中以图像界面显示；所述装置包括控制及数据处理电路板、第一激光器、第二激光器、第一光开关、第一光分路器、可调谐光衰减器、第二光开关、第二光分路器、以及标准探测器；通过采用本发明提出的参数提取装置，可以方便用户快速完成测试工作，并提取出更全面的待测光电/电光器件的关键参数。

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