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有机抗反射化合物及其制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN01123292.7
  • IPC分类号:C08F20/14;C09D133/08
  • 申请日期:
    2001-06-30
  • 申请人:
    海力士半导体有限公司
著录项信息
专利名称有机抗反射化合物及其制备方法
申请号CN01123292.7申请日期2001-06-30
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2002-01-16公开/公告号CN1331256
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C08F20/14IPC分类号C;0;8;F;2;0;/;1;4;;;C;0;9;D;1;3;3;/;0;8查看分类表>
申请人海力士半导体有限公司申请人地址
韩国京畿道 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人海力士半导体有限公司当前权利人海力士半导体有限公司
发明人洪圣恩;郑旼镐;郑载昌;李根守;白基镐
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人黄益芬
摘要
一种具有下式1的有机抗反射聚合物、其制备方法、一种含有所述有机抗反射聚合物的抗反射涂料组合物、和由其制得抗反射涂层的制备方法。该包含所公开聚合物的抗反射涂层消除了由晶片的下层光学性能和光刻胶的厚度变化所引起的驻波,防止了由于从下层衍射和反射的光引起的回射和CD变换。这些优点使得能够形成适用于64M、256M、1G、4G和16G DRAM半导体器件的稳定的超微图案,并提高生产产率。而且,还能控制K值并且增加疏水性,有助于形成EBR(流珠式除水)。

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