一种PCB金手指外观检测机构

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201921426555.7
IPC分类号：G01B7/34;G01N27/20
申请日期：
2019-08-30
申请人：
智恩电子（大亚湾）有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种PCB金手指外观检测机构
申请号	CN201921426555.7	申请日期	2019-08-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B7/34 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B7/00 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 G01B7/34 用于计量表面的粗糙度或不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;7;/;3;4;;;G;0;1;N;2;7;/;2;0查看分类表>
申请人	智恩电子（大亚湾）有限公司	申请人地址	广东省惠州市大亚湾响水河工业园变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	智恩电子（大亚湾）有限公司	当前权利人	智恩电子（大亚湾）有限公司
发明人	王欣;冯娇娇;贺仁虎
代理机构	惠州市超越知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	杨光

摘要

本实用新型公开了一种PCB金手指外观检测机构，属于PCB检测装置技术领域，包括底板、升降杆、安装板，所述的升降杆底部固定连接于底板上，所述的安装板滑动安装于升降杆上，所述的安装板上设置有感应微晶探针阵列，所述的感应微晶探针端部设置有方形垫片，所述的感应微晶探针上部设置有弹性件，通过探针长度变化，感应电阻差异，从而检测出金手指外观高度不良，本实用新型通过阵列排布的方形探针对金手指外观高度进行检测，并且方形探针在检测过程中可以防止对金手指表面造成针孔、划伤等不良。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供