一种超稀疏天线阵列收发波束方向图的测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201711468663.6
IPC分类号：G01R29/10;G01S7/40
申请日期：
2017-12-29
申请人：
中国电子科技集团公司第五十四研究所

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著录项信息

专利名称	一种超稀疏天线阵列收发波束方向图的测试方法
申请号	CN201711468663.6	申请日期	2017-12-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-07-20	公开/公告号	CN108303602A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量 G01R29/10 天线的辐射图〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;1;0;;;G;0;1;S;7;/;4;0查看分类表>
申请人	中国电子科技集团公司第五十四研究所	申请人地址	河北省石家庄市中山西路589号第五十四所遥控部变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电子科技集团公司第五十四研究所	当前权利人	中国电子科技集团公司第五十四研究所
发明人	刘友永;杨伟军
代理机构	河北东尚律师事务所	代理人	王文庆

摘要

本发明公开了一种超稀疏天线阵列收发波束方向图的测试方法，主要解决现有测量方法和体制无法对超稀疏天线阵列进行地面方向图测试的难题。本发明通过多天线接收同一卫星的回波信号，利用FX相关合成器获取各天线间延迟差和相位差，作为天线间延迟差和相位差的零值；在此基础上对单天线波束宽度内的来波方向进行栅格化，利用对应的延迟差和相位差对各天线接收的卫星信号进行精确补偿，从而实现超稀疏天线阵列收发方向图的测试。本发明具有延迟/相位测量精度高、方法简单可靠等优点，比较适用于区域天线组阵、网络化雷达等超稀疏、分布式天线阵列的远场方向图测试。

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