一种薄板的组织定位制样方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510675357.4
IPC分类号：G01N1/28
申请日期：
2015-10-16
申请人：
武汉钢铁（集团）公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	一种薄板的组织定位制样方法
申请号	CN201510675357.4	申请日期	2015-10-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-02-03	公开/公告号	CN105300762A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20）	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;2;8查看分类表>
申请人	武汉钢铁（集团）公司	申请人地址	湖北省武汉市青山区厂前2号门股份公司机关变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉钢铁有限公司	当前权利人	武汉钢铁有限公司
发明人	关云;王志奋;马家艳;邓照军;许竹桃;吴立新;周元贵;黄海娥;杨志婷
代理机构	武汉开元知识产权代理有限公司	代理人	王和平

摘要

本发明提供了一种薄板的组织定位制样方法，其步骤包括：(1)将薄板沿厚度方向，垂直薄板的板面垂直截取板面试样及截面试样，再将板面试样与截面试样固定在一起，保持板面试样的板面和截面试样的厚度面在同一个平面上；(2)对板面试样和截面试样进行金相抛光或腐蚀操作，观察组织的变化情况，确定截面组织发生变化时相应的板厚位置；(3)将同一平面的板面试样的板面和截面试样的厚度面同时进行磨制，使板面试样的厚度达到步骤(2)确定需要的板厚位置。本发明将组织定位与厚度定位相结合，实现多层次定位分析，尤其是渗层及镀层在厚度方向的组织变化具有不确定性，本方法能够根据组织的变化，灵活且准确的定位制样，实用性强。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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