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测试装置及测试方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810093321.5
  • IPC分类号:G01M3/20
  • 申请日期:
    2008-04-18
  • 申请人:
    纬创资通股份有限公司
著录项信息
专利名称测试装置及测试方法
申请号CN200810093321.5申请日期2008-04-18
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2009-10-21公开/公告号CN101561336
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M3/20IPC分类号G;0;1;M;3;/;2;0查看分类表>
申请人纬创资通股份有限公司申请人地址
中国台湾台北县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人纬创资通股份有限公司当前权利人纬创资通股份有限公司
发明人曾天仲
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人陈小雯
摘要
本发明公开一种测试装置及测试方法。测试装置包括气密隔间结构、箱体及至少一气体感测器。箱体与气密隔间结构结合以形成一气密空间,一待测物供设置在箱体与气密隔间结构结合的一侧,且待测物与气密隔间结构结合形成一待测气密空间;至少一气体感测器设置于待测气密空间中。气密空间供容置一测试气体,通过至少一气体感测器检测待测气密空间内是否存在测试气体,以测试待测物的气密状态。

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