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基于半径差或者半径和的空间位置测量方法及装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN02116301.4
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2002-03-22
  • 申请人:
    张千山
著录项信息
专利名称基于半径差或者半径和的空间位置测量方法及装置
申请号CN02116301.4申请日期2002-03-22
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2003-10-08公开/公告号CN1447129
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人张千山申请人地址
北京市142信箱403分箱25号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人张千山当前权利人张千山
发明人张千山
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明涉及了一种基于半径差或者半径和的空间位置测量方法及装置,其特征在于:将曲线、曲面交汇点标定空间位置的过程转变成数学模型与计算公式,所述线与面有双曲线、椭圆线以及它们的旋转体,另外还有直线,此过程依据信号传送线路之几何关系,所要计算的未知数不含收发系统的时钟差,计算结果会出现双解、盲线现象,做近似计算的逼近速度快、收敛性好,半径差与半径和共用同样的计算公式,被测量目标与基站之间信号传送方向可逆。这一切带来的积极变化首先要影响到GPS全球卫星定位系统的信息处理过程,再则是应用范围扩大,有关设备大大简化,造价大大降低。

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