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多普勒偏移的测试方法及装置、可读存储介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010085737.3
  • IPC分类号:H04B17/40;H04B7/185
  • 申请日期:
    2020-02-10
  • 申请人:
    北京华力创通科技股份有限公司
著录项信息
专利名称多普勒偏移的测试方法及装置、可读存储介质
申请号CN202010085737.3申请日期2020-02-10
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-06-09公开/公告号CN111262640A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04B17/40IPC分类号H;0;4;B;1;7;/;4;0;;;H;0;4;B;7;/;1;8;5查看分类表>
申请人北京华力创通科技股份有限公司申请人地址
北京市海淀区东北旺西路8号院乙18号楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京华力创通科技股份有限公司当前权利人北京华力创通科技股份有限公司
发明人姜斌;陆连伟;刘斌彬;沈澈
代理机构北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)代理人蒋姗
摘要
本申请提供一种多普勒偏移的测试方法及装置、可读存储介质。测试方法,包括:获取信关站的位置信息和卫星的位置信息;所述信关站的位置信息和所述卫星的位置信息均为经过时间同步的信息;根据所述信关站的位置信息和所述卫星的位置信息和预设算法计算所述信关站与所述卫星之间的第一多普勒偏移;测量所述信关站与所述卫星之间的下行信号,并根据所述下行信号计算所述信关站与所述卫星之间的第二多普勒偏移;根据所述第一多普勒偏移和所述第二多普勒偏移确定所述信关站与所述卫星之间的多普勒偏移的补偿精度。该方法用以测算信关站对于多普勒频移和时偏补偿的准确性。

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