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多特征多级别的可见光全色与多光谱高精度配准方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210251487.1
  • IPC分类号:G06T7/00
  • 申请日期:
    2012-07-19
  • 申请人:
    中国科学院自动化研究所;北京市遥感信息研究所
著录项信息
专利名称多特征多级别的可见光全色与多光谱高精度配准方法
申请号CN201210251487.1申请日期2012-07-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-11-28公开/公告号CN102800098A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T7/00IPC分类号G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院自动化研究所;北京市遥感信息研究所申请人地址
北京市海淀区中关村东路95号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院自动化研究所,北京市遥感信息研究所当前权利人中国科学院自动化研究所,北京市遥感信息研究所
发明人霍春雷;江碧涛;潘春洪;樊彬;张秀玲;杜鹃
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人宋焰琴
摘要
本发明公开了一种可见光全色图像与多光谱图像的配准方法,包括如下步骤:对全色图像和多光谱图像进行多尺度分解,生成低分辨率的全色图像和多光谱图像;在所述低分辨率图像对上提取、匹配SIFT特征并去除外点,利用匹配的SIFT特征对和迭代重加权最小二乘法得到初始变换模型;在原始图像对上利用所述初始变换模型据提供的几何约束,进行基于图像块对的SIFT特征提取、匹配及外点去除,并在所有的SIFT特征对集合上选择最优的变换类型并利用迭代重加权最小二乘法求得变换参数;:根据所述变换模型对多光谱图像进行变换,得到变换后的多光谱图像。

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