用于对集成电路进行统计建模的方法与系统

发明专利无效专利

申请号：
CN200510108439.7
IPC分类号：G06F17/50
申请日期：
2005-10-08
申请人：
国际商业机器公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	用于对集成电路进行统计建模的方法与系统
申请号	CN200510108439.7	申请日期	2005-10-08
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2006-05-10	公开/公告号	CN1770167
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/50 计算机辅助设计（静态存储的测试电路的设计入G11C 29/54）〔6，8〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人	国际商业机器公司	申请人地址	美国纽约变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国际商业机器公司	当前权利人	国际商业机器公司
发明人	卡尔文·J·比特纳;史蒂文·A·格伦登;李维美;陆宁;约瑟夫·S·沃茨
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	黄小临;王志森

摘要

公开了一种方法、系统以及程序产品，用于对集成电路以统计方式建立模型，其提供了关于模型参数之间部分相关性信息。本发明为将要被建立模型的数据确定一个方差－协方差矩阵；对该方差－协方差矩阵进行主要分量分析；并且对每一个主要分量创建一个具有独立分布的统计模型，允许通过电路模拟器计算每一单个的模型参数作为加权和。该统计模型提供了关于各个晶体管基于布局的相似性而将会互相跟踪得有多么好的信息。这允许设计人员量化和利用设计实践，例如，通过令所有栅极朝向同一方向使所有晶体管相类似的设计实践。还包括使用该统计模型来模拟电路的一种方法、系统以及程序产品。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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