基于线结构光的大视场两轴测量装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200810158226.9
IPC分类号：G01B11/24;G01B11/00
申请日期：
2008-10-20
申请人：
中国海洋大学

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著录项信息

专利名称	基于线结构光的大视场两轴测量装置
申请号	CN200810158226.9	申请日期	2008-10-20
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-04-08	公开/公告号	CN101403606
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国海洋大学	申请人地址	山东省青岛市崂山区松岭路238号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国海洋大学	当前权利人	中国海洋大学
发明人	解则晓;刘世晶;王琨;李绪勇;徐尚
代理机构	青岛海昊知识产权事务所有限公司	代理人	张中南

摘要

本发明涉及一种基于线结构光的大视场两轴测量装置。其特征是被测物体数控回转台和设置有线结构光测头的测头数控回转台被固定在作为参考平面的基座平板上，且两个数控回转台的转轴都近似垂直于基座平板，即两转轴相对于基座平板的倾斜角在88°～92°范围内，两转轴之间的距离在390mm～410mm范围内。其利用两个数控回转台的转动，使线结构光测头的结构光平面扫过被测物体一周来测量复杂物体的全貌，而得到整个被测物体在世界坐标系中的三维数据。本发明视场大、精度高、结构简单、成本低，克服了现有的三轴测量机构无法测量到物体的侧面和背面，以及四轴测量机构视场小、结构复杂、成本高的缺点。

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