一种基于知识图谱的在轨航天器设备异常检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202211169784.1
IPC分类号：G06Q10/00;G06Q50/04;G06F16/36
申请日期：
2022-09-26
申请人：
北京理工大学

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专利名称	一种基于知识图谱的在轨航天器设备异常检测方法
申请号	CN202211169784.1	申请日期	2022-09-26
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2022-11-04	公开/公告号	CN115293379A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06Q10/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06Q 专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法；其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法〔8〕 G06Q10/00 行政；管理〔8，2012.01〕	IPC分类号	G;0;6;Q;1;0;/;0;0;;;G;0;6;Q;5;0;/;0;4;;;G;0;6;F;1;6;/;3;6查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	伊枭剑;黄培政;张宽;汪赛进;赵焕洲
代理机构	北京慕达星云知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	符继超

摘要

本发明公开了一种基于知识图谱的在轨航天器设备异常检测方法，包括获取航天器传感器的历史运行状态数据，并进行标准化处理，得到传感器特征数据集；获取航天器设备相关信息，并进行预处理；对预处理后的航天器设备相关信息进行语义标注后，结合传感器特征数据集，构建航天器设备知识图谱；针对航天器可能出现的异常状态，构建航天器异常案例图谱；将在轨航天器传感器的实时数据与传感器特征数据集进行匹配，并根据匹配度确定异常设备信息；将异常设备信息与异常案例图谱进行特征匹配，确定异常原因。本发明利用知识图谱信息技术，高效且准确地实现了对航天器设备的异常定位及异常原因分析。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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