一种基于LabVIEW开发平台的尺寸测量系统及其测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810191820.1
IPC分类号：G01B11/02;G01B11/00;G05B19/05
申请日期：
2018-03-08
申请人：
上海第二工业大学

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著录项信息

专利名称	一种基于LabVIEW开发平台的尺寸测量系统及其测量方法
申请号	CN201810191820.1	申请日期	2018-03-08
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-09-14	公开/公告号	CN108534684A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;5;B;1;9;/;0;5查看分类表>
申请人	上海第二工业大学	申请人地址	上海市浦东新区金海路2360号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海第二工业大学	当前权利人	上海第二工业大学
发明人	秦琴;谢鹏;沈知玮;屠子美;朱冬冬;陈振宇;严学井
代理机构	上海天翔知识产权代理有限公司	代理人	刘粉宝

摘要

本发明是一种基于Lab VIEW开发平台的尺寸测量系统及其测量方法，包括上位机、PLC、3D激光相机以及线性模组装置；上位机用于向PLC发出工作指令，通过PLC完成与3D激光相机以及线性模组装置的信号交互；PLC与上位机连接，接收上位机的指令控制3D激光相机的触发以及线性模组装置的运动；3D激光相机安装在线性模组装置上，3D激光相机用于扫描被测物体生成3D点云数据以及灰度数据，并将其数据传输给上位机；线性模组装置与PLC连接，由PLC控制，用于带动3D激光相机移动。本本发明结构简单、抗噪性强、视野广、安装方便、精度高、通用性强；解决了传统测量系统所带来的稳定性差、视野受限、配置繁琐、抗噪性差以及较难集成等问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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