RFID设备测试方法及系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201210000712.4
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2012-01-04
申请人：
华北电网有限公司计量中心

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法律信息

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著录项信息

专利名称	RFID设备测试方法及系统
申请号	CN201210000712.4	申请日期	2012-01-04
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-07-04	公开/公告号	CN102539970A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	华北电网有限公司计量中心	申请人地址	北京市西城区地臧庵南巷1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国家电网公司,冀北电力有限公司计量中心	当前权利人	国家电网公司,冀北电力有限公司计量中心
发明人	袁瑞铭，李顺昕，宋伟，王思彤，田海亭，张威，钟侃，秦红磊
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	任默闻

摘要

本发明提供一种RFID设备测试方法及系统，其中，该系统包括：信号生成装置，用于根据预定规则生成测试信号，数模转换装置，用于将测试信号转换为中频模拟信号，信号收发装置，用于将中频模拟信号发送给射频标签、以及接收来自射频标签的响应信号，模数转换装置，用于将响应信号转换为中频数字信号，性能检测装置，用于根据中频数字信号检测射频标签的性能。通过本发明，可以提高测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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