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光学系统内部腔室精密气体控制方法及其装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210062634.0
  • IPC分类号:G05D16/04
  • 申请日期:
    2012-03-09
  • 申请人:
    上海微电子装备有限公司
著录项信息
专利名称光学系统内部腔室精密气体控制方法及其装置
申请号CN201210062634.0申请日期2012-03-09
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2013-09-18公开/公告号CN103309369A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G05D16/04IPC分类号G;0;5;D;1;6;/;0;4查看分类表>
申请人上海微电子装备有限公司申请人地址
上海市浦东新区张东路1525号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海微电子装备(集团)股份有限公司当前权利人上海微电子装备(集团)股份有限公司
发明人聂宏飞;杨志斌;俞芸;李其涛;王云英
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)代理人屈蘅;李时云
摘要
一种光学系统内部腔室精密气体控制装置,包括:光学系统;气体控制回路,所述气体控制回路采用控制参数解耦方法设计。一种光学系统内部腔室精密气体控制方法,包括气体控制回路控制参数解耦方法,具体为:给出控制参数集;对控制参数集进行敏感性分析;对控制参数集进行相对独立性分析;对控制参数进行初次分段;选择控制装置;判断控制装置可行性;若可行,气体控制回路构建完成;若不可行,进行二次分段;选择控制装置;判断每段控制装置可行性,若可行,气体控制回路构建完成;若不可行,再分段,直至可行。本发明可对气体回路进行多参数解耦;实现高倍降压;抑制二次污染;压力稳定性好;参数在线可调,以及结构简单,可靠性高,维护方便。

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