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通过用于使用可铸塑固定材料制备样本的方法和系统的岩石和其他样本的表征

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201380069038.8
  • IPC分类号:G01N23/225;G01N1/36;G01N33/24;G01N23/04
  • 申请日期:
    2013-10-24
  • 申请人:
    领英股份有限公司
著录项信息
专利名称通过用于使用可铸塑固定材料制备样本的方法和系统的岩石和其他样本的表征
申请号CN201380069038.8申请日期2013-10-24
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-09-09公开/公告号CN104903711A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N23/225IPC分类号G;0;1;N;2;3;/;2;2;5;;;G;0;1;N;1;/;3;6;;;G;0;1;N;3;3;/;2;4;;;G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表>
申请人领英股份有限公司申请人地址
美国德克萨斯州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人领英股份有限公司当前权利人领英股份有限公司
发明人布赖恩·古兹曼;瑙姆·德尔吉
代理机构上海专利商标事务所有限公司代理人崔志毅
摘要
提供一种方法,其能够使岩石或其他类型的样本如从芯体分析中提取的岩颈使用被硬化的封装剂如可铸造的固定材料封装的条或样本底座来表征,制备所述条或样本底座以具有样本和任选的多个薄型离散的参照物,所述硬化的封装剂围绕样本和任意的参照物的外围边缘。还提供进行这些方法的系统。还提供x‑射线可扫描条作为单一的单元,其具有被硬化的封装剂封装的薄型离散的样本和多个薄型离散的参照物,所述硬化的封装剂包封样本和参照物的外围边缘。样本底座可以随后通过X‑射线计算机断层摄影、扫描电子显微镜(SEM)和结合的SEM和聚焦离子束(FIB)来分析。

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