基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备

发明专利有效专利

申请号：
CN202110792395.3
IPC分类号：G01D5/24;G01R27/26
申请日期：
2021-07-13
申请人：
上海艾为电子技术股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备
申请号	CN202110792395.3	申请日期	2021-07-13
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-10-29	公开/公告号	CN113566852A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D5/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D5/00 用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器（G01D 3/00优先；专门适用于给出除变量的瞬时值以外的结果的仪表入G01D 1/00）〔6〕 G01D5/12 采用电或磁装置（G01D 5/06优先）〔3〕 G01D5/14 影响电流或电压的大小 G01D5/24 通过改变电容	IPC分类号	G;0;1;D;5;/;2;4;;;G;0;1;R;2;7;/;2;6查看分类表>
申请人	上海艾为电子技术股份有限公司	申请人地址	上海市闵行区秀文路908弄2号1201室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海艾为电子技术股份有限公司	当前权利人	上海艾为电子技术股份有限公司
发明人	王旭旭;刘业凡
代理机构	深圳市嘉勤知识产权代理有限公司	代理人	董琳

摘要

本申请公开一种基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备，其中基线更新方法包括：获取电容传感器在各个采样时刻的电容变化量与对应的基线值之间的差值，得到第一检测差值；根据所述第一检测差值与检测阈值之间的关系识别所述电容传感器与参照物在所述各个采样时刻的参考相对状态；根据各个采样时刻的参考相对状态获取各个采样时刻的基线更新规则，以更新各个采样时刻的基线值。其使各个基线值与相应电容传感器所处状态和/或环境相匹配，可以提高依据相应基线进行电容传感器与参照物之间相对状态检测的准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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