一种光学测绘相机辐射性能指标的量化方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201511003352.3
IPC分类号：G06F17/50;G06N3/12;G06T7/00
申请日期：
2015-12-28
申请人：
哈尔滨工业大学

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著录项信息

专利名称	一种光学测绘相机辐射性能指标的量化方法
申请号	CN201511003352.3	申请日期	2015-12-28
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2016-06-15	公开/公告号	CN105677943A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/50 计算机辅助设计（静态存储的测试电路的设计入G11C 29/54）〔6，8〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;5;0;;;G;0;6;N;3;/;1;2;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	智喜洋;胡建明;孙晅;张伟;傅斌
代理机构	哈尔滨龙科专利代理有限公司	代理人	高媛

摘要

本发明公开了一种测绘相机辐射性能指标的量化方法，其步骤如下：步骤1：基于最小二乘影像匹配，推导得出影响测绘精度的相机辐射性能指标；步骤2：在步骤1基础上，分析各指标对测绘匹配精度的影响规律；步骤3：以实现相机辐射指标与场景信息去相关解耦为目的，提出场景信息表征参数；步骤4：在步骤2和3基础上，构建相机辐射指标与测绘精度之间的关联模型；步骤5：结合步骤4所建模型，提出相机辐射指标量化方法。本发明提供的方法建立了相机辐射指标与匹配精度之间的关联模型，利用该模型可为测绘相机辐射性能指标的量化与优化设计及性能预估提理论指导与技术支撑。

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