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横向型氮化镓基场效应晶体管及其制作方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711377002.2
  • IPC分类号:H01L29/778;H01L21/335;H01L29/06
  • 申请日期:
    2017-12-19
  • 申请人:
    中国电子产品可靠性与环境试验研究所
著录项信息
专利名称横向型氮化镓基场效应晶体管及其制作方法
申请号CN201711377002.2申请日期2017-12-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-05-18公开/公告号CN108054208A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L29/778
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;9;/;7;7;8;;;H;0;1;L;2;1;/;3;3;5;;;H;0;1;L;2;9;/;0;6查看分类表>
申请人中国电子产品可靠性与环境试验研究所申请人地址
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国电子产品可靠性与环境试验研究所当前权利人中国电子产品可靠性与环境试验研究所
发明人贺致远;邵伟恒;王磊;方文啸;陈义强;黄云;恩云飞
代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司代理人暂无
摘要
本发明公开了一种横向型氮化镓基场效应晶体管及其制作方法。该横向型氮化镓基场效应晶体管的结构中包括依次层叠设置的缓冲层、高阻层、p型掺杂的p‑GaN层、n型掺杂的n‑GaN层、沟道层、势垒层、后期器件工艺形成的台阶状的源极层和漏极层、以及绝缘介质层和栅极层,当器件处于关断状态时,栅极层施加反向电压,栅极层下方导电沟道阻断,此时,外延层中的p‑GaN层和n‑GaN层在源极层和漏极层的高压反偏作用下,形成超结结构的耗尽层,从超结理论可知,超结建立的电场垂直于漏极层和栅极层之间的电场,使得外延层中的电场更加均匀,降低了电场峰值,实现晶体管的高耐压特性。

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